Logo

Teledyne Days Room 1-Semiconductor Inspection at Speed

Data

Quinta-feira, 16 Abril 2026

Horário

10:30 Europe/Berlin

Ver no meu fuso horário
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Campos obrigatórios
* Caso já tenha se registrado e não consiga localizar seu e-mail de confirmação de registro, clique aqui!
O endereço de e-mail está incorreto. Verifique seu endereço de e-mail.

Um e-mail de confirmação com detalhes de login foi enviado ao e-mail fornecido.

Teste de configuração do sistema. Clique aqui!

Pauta do evento

Semiconductor Inspection at Speed

The semiconductor market is growing fast - and so is the need for inspection. Learn about the products and technologies that have made Teledyne the global leader for these inspections, from wafer and die-stacking to packaging and populated circuits, using UV or SWIR illumination to detect the invisible, enabling the speed and efficiency required for this highly competitive market.

Dale Deering

VP Product Marketing & LineScan Product Management, Teledyne Imaging

Over 25 years in machine vision spanning development and business leadership. Dale oversees product and business development for machine vision cameras at Teledyne, with deep expertise in high-speed and line-scan imaging applications. He serves on the A3 Vision & Imaging Technology Strategy Board.

Danny Hesse

Portfolio Manager, STEMMER IMAGING

STEMMER IMAGING AG

LEADING VISION