Logo

Teledyne Days Room 1-Semiconductor Inspection at Speed

Data

Czwartek, 16 kwietnia 2026

Czas

10:30 Europe/Berlin

Zobacz w mojej strefie czasowej
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
Pola wymagane
Jeśli już zarejestrowałaś/łeś się na to spotkanie, a nie otrzymałaś/łeś maila z potwierdzeniem, kliknij tutaj!
Adres email jest niepoprawny. Sprawdź dokładnie adres e-mail.

Wiadomość email zawierająca informacje na temat logowania do pokoju została wysłana na wskazany adres.

Test konfiguracji systemu. Kliknij tutaj!

Plan wydarzenia

Semiconductor Inspection at Speed

The semiconductor market is growing fast - and so is the need for inspection. Learn about the products and technologies that have made Teledyne the global leader for these inspections, from wafer and die-stacking to packaging and populated circuits, using UV or SWIR illumination to detect the invisible, enabling the speed and efficiency required for this highly competitive market.

Dale Deering

VP Product Marketing & LineScan Product Management, Teledyne Imaging

Over 25 years in machine vision spanning development and business leadership. Dale oversees product and business development for machine vision cameras at Teledyne, with deep expertise in high-speed and line-scan imaging applications. He serves on the A3 Vision & Imaging Technology Strategy Board.

Danny Hesse

Portfolio Manager, STEMMER IMAGING

STEMMER IMAGING AG

LEADING VISION